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資料情報
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
所蔵館 |
配架場所 |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
帯出区分 |
状態 |
所蔵棚番号 |
AJ区分
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取込区分
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在架
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1 |
中央 | 書庫資料 | 1021666696 | 図書 | 549.1//2010 | | 在庫 | | 一般書(A) | |
○ |
関連資料
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二川 清 塩野 登 横川 慎二 福田 保裕 三井 泰裕
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
タイトルコード |
1000012175152 |
書誌種別 |
図書 |
書名 |
LSIの信頼性 (信頼性技術叢書) |
書名ヨミ |
エルエスアイ ノ シンライセイ |
叢書名 |
信頼性技術叢書
|
著者名 |
二川 清/編著
塩野 登/著
横川 慎二/著
福田 保裕/著
三井 泰裕/著
|
著者名ヨミ |
|
出版者 |
日科技連出版社
|
出版年月 |
2010.10 |
ページ |
8,183p |
大きさ |
21cm |
ISBN |
4-8171-9363-6 |
分類記号 |
549.7
|
著者紹介 |
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。同大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師。 |
内容紹介 |
家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。 |
目次
内容細目
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